Accueil     Services     Produits      Solutions     Contact
 
 
 

 

Résistivimètre

Polymères

Wafer Testing

Recherche

Profilométrie

 

 

 

Logiciel de pilotage pour prober avec affichage de la cartographie des tranches.

Le Challenge:

Le test de microsystèmes sur tranche silicium s'effectue à l'aide d'une machine appelée "prober" en Anglais (v. photo plus bas). Ces machines sont capables de positionner des tranches de silicium allant jusqu'a 300mm de diamètre à quelques micromètres près.  Cela permet d'établir le contact électrique avec les systèmes à tester sur la plaque. Chaque plaque peut contenir plusieurs milliers de composants à tester. Le test d'une seule plaque peut donc prendre de quelques heures à plusieurs jours. La robustesse du système est donc un facteur clé de la réussite d'un tel projet.

Le Matériel:

- Deux prober Electroglas 4090 et 2001CX devant fonctionner avec le même logiciel.

- Un PC équipé d'une carte NI GPIB pour pour piloter le prober via le logiciel.

- Différentes cartes de mesures PCI nécessaires au test des microsystèmes.

La solution:

Un logiciel implémenté en LabVIEW et fonctionnant sur le PC qui réalise les taches et fonctions suivantes:

- Génération de la cartographie exacte des plaques (mapping) à partir des données de la CAO.

- Pilotage du prober afin de tester tous les éléments du mapping.

- Chargement dynamique des séquences de test pour une gestion simple des configurations produits.

- Possibilité d'échantillonnage des puces a tester par zone et par type pour test statistique.

- Archivage automatique des données de mesure.

- Gestion Multi-Utilisateurs avec droits d'accès.

 
 

  © 2009 SOLUTEST Brice Blanc. All Rights Reserved.