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Logiciel
de pilotage pour prober avec affichage de la cartographie des
tranches.
Le Challenge:
 Le
test de microsystèmes sur tranche silicium s'effectue à l'aide d'une
machine appelée "prober" en Anglais (v. photo plus bas). Ces machines
sont capables de positionner des tranches de silicium allant jusqu'a
300mm de diamètre à quelques micromètres près. Cela permet
d'établir le contact électrique avec les systèmes à tester sur la
plaque. Chaque plaque peut contenir plusieurs milliers de composants à tester. Le
test d'une seule plaque peut donc prendre de quelques heures à plusieurs
jours. La robustesse du système est donc un facteur clé de la réussite
d'un tel projet.
Le Matériel:
- Deux prober Electroglas
4090 et 2001CX devant fonctionner avec le même logiciel.
- Un PC équipé d'une
carte NI GPIB pour pour piloter le prober via le logiciel.
- Différentes cartes de
mesures PCI nécessaires au test des microsystèmes.
 La
solution:
Un logiciel implémenté en
LabVIEW et fonctionnant sur le PC qui réalise les taches et fonctions
suivantes:
- Génération
de la cartographie exacte des plaques (mapping) à partir des données de la CAO.
- Pilotage du prober afin
de tester tous les éléments du mapping.
-
Chargement dynamique des séquences de test pour une gestion simple des
configurations produits.
- Possibilité
d'échantillonnage des puces a tester par zone et par type pour test
statistique.
- Archivage automatique
des données de mesure.
- Gestion
Multi-Utilisateurs avec droits d'accès.
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