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Compétences techniques:
- Programmation LabVIEW,
LabVIEW Real-Time et LabVIEW FPGA.
- Acquisition et
traitement de données.
- Acquisition et
traitement d'images.
- Bus et drivers GPIB,
RS232, USB, ethernet.
- Contrôle de
déplacement, actionneurs, robotique.
- Physique générale
(thermodynamique, physique du solide, matériaux, mesure, magnétisme,
traitement du signal).
- Matériel NationaI
Instruments, Keithley, Agilent, Keyence, Euroterm, Tektronix, Lambda, etc...
- Contrôle Statistique de
procédés (SPC).
- Test des
semi-conducteurs sur tranche, probers Electroglas 2001CX, Electroglas 4090, Accretech UF200.
Présentations techniques et
articles:
Télécharger les
présentations techniques faites
à l'IEEE
Semiconductor Wafer Test Workshop:
- "GlasTest
: Universal Interface Test Management Software for EG2001"
(P. Sandri, B. Blanc)
- "Novel
Methodologies for Assessing On-line Probe Process Parameters"
(J. Broz, B. Blanc, G. Humphrey, R. Moore, P. Mui)
- "Optimisation
des procédés de test des semi-conducteurs" (Brice Blanc,
Solutest)
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